Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Weronika Walkosz
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces
2011ISBN 9781441978165
Viršelis: KietasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisChemijaGamtos mokslai
Šią knygą siūlo (0)
Šios knygos nori (0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra