GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Band 46)

Name: GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Band 46)
Author: Peng Luo
ISBN: 9783736999060

Peng Luo

Leidėjas: Cuvillier Verlag

2019152 psl.ISBN 9783736999060

Viršelis: MinkštasAnglų k.

Negrožinė literatūra Literatūra užsienio kalbomis Fiziniai ir technologijos mokslai Statyba, inžinerija

Šią knygą siūlo (0)

Šios knygos nori (0)