Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

David C. JoyJoseph R. MichaelDale E. NewburyJoseph GoldsteinNicholas W. M. RitchieJohn Henry J. Scott
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
2017ISBN 9781493966745
Viršelis: KietasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisChemijaGamtos mokslai
Šią knygą siūlo (0)
Šios knygos nori (0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra